Przejdź do treści

Pomiary grubości

Oferujemy Państwu pomiary grubości powłok jak i składu pierwiastkowego pokryć galwanicznych, innych powłok, stopów, folii i kąpieli galwanicznych szybką nieniszczącą metodą EDXRF (fluorescencja rentgenowska) za pomocą spektrometru X- Strata 960 firmy Oxford Instruments.
Zapewniamy doskonałą identyfikację materiałów wielopierwiastkowych od masy atomowej pierwiastków Ti22 do U92. Gwarantujemy wysoką precyzję pomiarów, które są porównywane do uznanych certyfikowanych wg NIST (National Institute of Standards and Technology) wzorców.
Pomiarów dokonujemy za pomocą kalibracji empirycznej lub przy użyciu szybkiej kalibracji FP (Fundamental Paramaters) Metoda pomiaru jest szybka i nieniszcząca. Możliwy jest pomiar do 5 warstw.

14